Physik Instrumente （PI） 在 SPIE Photonics West PiLightning 上引入了一种新的光子芯片对准算法。 该公司表示，Pilightning是完全自主的，不需要繁琐的搜索或人工干预，大大降低了工业光子对准应用的测试和组装成本。 该产品为光子学实现大规模制造开辟了新的可能性。
早在 2016 年，PI 就推出了快速多通道光子学对准 （FMPA）。 该技术减少了制造和测试光子器件的时间和成本，并提高了产量。 但在优化校准过程开始之前，必须检测高于噪声水平的光信号，这一过程称为初始光检测。
在所有工业光子学对准应用中，包括晶圆探测和器件封装，寻找第一束光一直是一个昂贵且费力的过程。 对于具有输入和输出端口的设备来说，这尤其耗时，因为必须将两侧对齐才能达到阈值耦合量。
为了解决这个问题，Pilightning基于一种新的搜索方法，该方法集成了基于人工智能的实时执行能力。 用高频数据采样代替细间距扫描可提高采集速度，并减少在单面和双面耦合和环回 （omega） 波导配置中采集第一束光所需的时间。 
据该公司称，测试表明，Pilightning在单侧对准应用中实现了一个数量级的性能改进; 在双面初始光检测应用中，性能甚至更高，搜索区域越大，对准越复杂，性能提升越明显。
Pillightning算法现在可直接用于PI基于超洁净空气轴承的F-142和F-143多轴光电对准系统，以及基于ACS的纳米立方体和方向镜控制器。 目前正在对现有的FMPA系统进行进一步的模块扩展和潜在的升级。
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