inTEST热流量计、集成电路IC芯片、高低温冲击试验

随着国家对半导体产业的重视程度越来越高，国内高校纷纷积极筹建半导体联合实验室等措施，促进集成电路产业研究和人才培养的发展。

InTest热流量计应用于集成电路研究项目案例：

国内某高校曾被博东推荐，选择InTest高低温试验机ATS-545用于高性能微处理器、网络通信芯片、功率器件、蓝牙芯片等科研项目的研发。 例如，工业级ICU芯片要求测试温度为-40至110，温度变化率为-50至125，持续10s。

ats-545-m

温度范围 °C：-75 至 + 225 （50 Hz）。

可变温度速率：-55 至 +125°C 约 10 秒或更短 +125 至 -55°C 约 10 秒或更短 输出风量：4 至 18 scfm 温度精度：1 美国NIST校准温度 显示分辨率：01.温度传感器：T型或K型热电偶防静电设计，无需LN2或LCO2冷却与传统的高低温试验箱相比，上海博东测热流量计的主要优点是：

1.变化速度更快，每秒快速上升 15 °C

2.控温精度：1

3.实时监测被测部件的真实温度，并可随时调节撞击气流的温度。

4.对于PCB电路板上众多元器件中的单个IC（模块），可以单独进行高低温冲击，而不影响周围的其他器件。

5.试验机平台负载板上IC的温度循环;传统的高温和低温试验箱不适用于此类测试。

6.为整个集成电路板提供准确、快速的环境温度。

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博东企业（上海）**叶小姐