JKZC DN系列增强型探针台

产品概述。

JKZC-DN系列探针台是我公司一款增强型晶圆测试探针台，可完成最大12英寸晶圆的电气测试。 该系列探针台采用高刚性显微镜龙门结构，可在x-y-z方向上精确调节显微镜。 卡盘具有上下调节功能，可快速将探针与样品分离，提高测试效率，已广泛应用于科研单位和半导体工厂。 这些探针台可用于测试超过 1 m 的焊盘电极。

技术特点： 显微镜采用高刚性龙门支架，并配备气动升降，确保高质量的光学成像

卡盘具有快速和精细的调整功能，可快速分离样品和探针，也可以装载探针卡

可升级，卡盘可升级360度快速移动，光电流扫描成像或拉曼瞬态荧光寿命成像系统可升级。

详细参数。