使用RS FSW和SMW200A进行卫星杂散测量

在设计、验证和制造射频和微波器件时，有必要使用频谱分析仪来搜索杂散。

卫星应用中的发射机和接收机设备必须满足极其严格的杂散限制。 这意味着在很宽的频率范围内检测非常低的杂散水平。 通常，高灵敏度测量需要窄分辨率带宽 （RBW），但这会导致更长的测量时间。 即使使用配备FFT滤波器的快速频谱分析仪，杂散检测也可能需要数小时甚至数天。

新的杂散检测算法可自动进行杂散测量并提高测量速度。

R&S FSW-K50 杂散测量应用采用三步法检测和确定杂散。 最佳RBW首先通过快速扫描确定。 然后执行第二次扫描以检测可能的杂散。 对每个已知杂散频率的最终高速搜索决定了该峰值是实际杂散、噪声伪影还是分析仪的内部杂散。 在最后一步中，进一步降低RBW，以满足信噪比要求。

R&S FSW-K50 杂散测量应用的测量流程

1.频谱视图和本底噪声估计

估计测量时间。

使用最佳 RBW** 进行分割。

2.杂散检测

通过的杂散检测限失败。

初步杂散**。

3.杂散点搜索

失败。

最终杂散**。

优化的 RBW（如果需要）。

用于大范围杂散搜索的测量设置。 每个频段的可配置参数。

与传统的杂散测量应用相比，R&S FSW-K50 具有以下几个优势：

杂散检测速度比现有频谱分析仪快 30 倍，尤其是在低 RBW 下。

RBW是根据最大允许杂散电平和所需的信噪比自动计算的

有两种不同的测量模式：针对未知杂散场景的宽范围检测和针对特定频率的定向检测。

“杂散测量应用结果”屏幕。

缩放虚假点搜索。 降低杂散RBW，以降低本底噪声并满足用户设置的信噪比要求，同时确定峰值是否为真杂散。