蔡司SEM电子显微镜技术参数

小夏 科学 更新 2024-01-20

蔡司SEM电子显微镜EVO MA 15用于材料领域,LS 15用于生命科学领域。 该系列电磁镜具有具有多个接口的大型样品室和最先进的物镜设计,提供高真空和低真空成像功能,分析各种材料表面和 X 射线分析技术。

蔡司扫描电子显微镜(SEM)广泛应用于金属材料(钢铁、冶金、有色金属、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)的检测和研究。 在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化工材料等领域,材料的显微形貌、结构和成分分析,各种材料的形貌和结构观察,材料的断裂分析和失效分析,材料的实时微观成分分析,元素的定量和定性成分分析,快速多元素表面扫描和线扫描分布测量,晶体和晶粒的物相识别,晶粒尺寸和形状的分析,以及晶体和晶粒取向的测量。

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蔡司SEM电子显微镜技术参数

1.分辨率:20nm@30kv(se with lab6 option) 3.0nm@30kv(se and w) 4.5nm@30kv(vp with bsd)

2.加速电压:02—30kv

3.放大倍率:5-1000000x

4.视场角:6mm

5、X射线参数:85mm WD,35度接收角度。

6、压力范围:10-400PA(LS15:10-3000PA)。

7.演播室:365mm()275mm(h)。

轴优化自动采样台:x=125mm,y=125mm,z=50mm,t=0-90°r=360°

9、试样高度:145mm,试样直径:250mm

10.系统控制:基于Windows XP的SmartSEM

扫描电子显微镜

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