IC作为重要的汽车零部件，是AEC委员会持续关注的重点领域。 AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆工艺可靠性、电参数验证、缺陷筛选、封装完整性测试，测试条件需要根据器件能够承受的温度等级进行选择。 需要注意的是，第三方很难独立完成AEC-Q100验证。
AEC（Automotive Electronics Council）——汽车电子委员会，由美国三大汽车公司（克莱斯勒福特通用）共同发起，成立于2024年，成员分布在世界各地的汽车制造商、汽车电子模块厂和零部件制造商。
AEC Q100是AEC委员会基于失效机理制定的针对汽车IC芯片的综合可靠性测试和认证标准，失效机理是芯片产品应用于汽车领域的基本门槛。 第一版于 1995 年发布，并不断更新，直到 2014 年 H 版本，这是至今仍在使用的标准。 AEC Q100标准是芯片产品的必备测试项目（根据产品类型、封装形貌和样品数量的要求）。
适用产品：单体IC，如MCU芯片、MPU芯片、存储芯片、计算芯片、安全芯片、LED驱动芯片、电源芯片、运算放大器、比较器、感知模拟芯片、通信芯片等。
AEC-Q100规范7大类41项测试。
A 组 - 加速环境压力测试（PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL），共 6 项测试。
B 组 – 加速生命周期模拟测试（HTOL、ELFR、EDR） – 共 3 次测试。
C 组 – 封装组件完整性测试（WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI） - 总共 6 项测试。
D 组 - 芯片制造可靠性测试（EM、TDDB、HCI、NBTI、SM） - 共 5 项测试。
E 组 – 电气验证测试（TEST、FG、HBM MM、CDM、LU、ED、CHAR、EMC、SC、SER） - 总共 11 项测试。
队列 F – 缺陷筛选测试（PAT、SBA） – 总共 2 次测试。
G 组 – 型腔封装完整性测试（MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV） - 共 8 项测试。
AEC-Q100 验证流程。
测试项目。 
关键电子元器件性能及寿命检测设备。
台达仪器专业从事关键电子元器件性能和寿命测试设备的研发和制造，满足部分汽车电子AEC-Q系列标准认证测试设备的要求。
该系列产品应用于各种插头电源线、电线组件、互连线组件、电器输入插座、电器输出插座、电器插座、电容器（X电容、Y电容）、隔离电阻（交叉线电阻）、变压器、开关电源变压器、光电耦合器、电源开关、继电器、保险丝、热熔断器、保险丝电阻、电位器、定时器、恒温器、温度限制器、热保护器、电器控制器、水位开关、旋转开关、传感器、印刷电路板、压敏电阻、电机、热敏电阻等均进行机械强度试验、额定电压试验、额定电流试验、分断能力试验、负载特性试验、热（温升）试验、正常运行试验、寿命可靠性试验、机械耐久性试验等试验项目。
为电子元器件的检测提供全套检测仪器，可为各电子电器生产企业提供以下检验检测项目的专业仪器设备：集成电路检测：成品检测、老化筛选、失效分析等;破坏性物理分析：外部目视检查、X射线检查、颗粒噪声（PinD）测试、密封性测试、内部气体成分分析、内部目视检查、内部引线结合强度、SEM、芯片剪切强度;可靠性寿命与老化筛选：老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性增强试验;环境试验：正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞（或连续冲击）、恒加速、跌落、输出点动态监测、温-振动-湿热三应力试验、高低温低压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、雨水、气体腐蚀、粉尘、热真空、强加速稳态湿热（HAST）;物理测试：物理尺寸、耐溶剂性、引线端强度、可焊性、焊接耐热性、封盖扭矩、涂层厚度、阻燃性测试。