Agilent 4155C 4156C 半导体参数分析仪。
Agilent 4155B半导体测试仪 安捷伦数字扫描参数分析仪，可靠的测试仪，强大的故障分析工具，自动检测设备;在合成到同一参数仪器中幸存下来。
新产品的设计目标明确旨在为亚微米几何尺寸设备的评估提供前所未有的精度。
它是一种灵活的仪器，可用于从材料评估到设备表征再到后包装的所有工作。
各个阶段的局部检查和现场失效分析可以提供许多应用，以提高半导体器件的质量。
选择正确的解决方案。
Agilent 4155B 具有 4 个内置源监控单元 （SMU） 和 2 个电压单元 （VSU）。
4155B 具有两个电压监控单元 （VMU），是采用非开尔文连接的基本半导体连接的绝佳选择，分辨率为 10FA，1 V 测量范围为 100mA 至 100V。
41501B SMU 和脉冲发生器扩展器可以随时添加。 它由 0v 1 组成6A 接地单元馈电。
可扩展以接收两个 100mA 100V SMU 或一个 1A 200V SMU 和两个同步 40V 1 S 脉冲发生器。
设置和测量。
Agilent 4155B 可与包括 Agilent 41501B 在内的多种测量单元配合使用，用于步进、脉冲扫描和采样（时域）测量，无需可变连接。 此外，应力循环测量（如热载流子的注入）和快速EEPROM评估可用于可靠性评估。
这可以通过前面板键、键盘或 gpib（scpi 命令）通过设置页面和添加空格来完成。
设置和测量，以及通过按钮扫描功能进行的简短测量和查找设置 - 类似于曲线绘图仪。
在彩色 LCD 上显示和分析测量和分析结果，可由 4 个图形存储器存储以供分析。 比较。 强大的分析方法使提取多个参数变得容易，如HFE、VTH等。
一旦找到参数提取条件，就可以使用-auto分析功能自动获取它们。 输出和存储。
设置、测量、分析数据可通过GPIB、Yanxing或网络接口10Base-T LAN输出到彩色绘图仪和打印机，也可通过网络或35 英寸磁盘以 MS-DOS 或 LIF 格式存储（Agilent-GL、PCL 功能 TIF）。
输出文件还允许将图形转换为桌面出版软件。 重复和自动化测试。